晶圓片檢測
健明迪檢測提供的晶圓片檢測，檢測項目：指標(biāo)檢測，性能測試，表面金屬檢測，厚度檢測等，檢測標(biāo)準(zhǔn)參考：GB/T11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
檢測流程
1、寄樣
2、免費(fèi)的初檢
3、報價表
4、兩方確認(rèn)，簽署保密協(xié)議書，開使試驗
5、7-10個工作日左右完成試驗
6、中后期服務(wù)，郵寄檢測報告!
我們的檢測有哪些優(yōu)勢?
產(chǎn)品評估：成分分析，分析成分比例，改善生產(chǎn)缺陷，提升產(chǎn)品品質(zhì)性能
政府監(jiān)管：工商檢測，市場監(jiān)督，項目投標(biāo)招標(biāo)，申請退稅基金等
上市品控：保證自己的產(chǎn)品能順利進(jìn)入各種電商品臺，商超等
打通市場：增強(qiáng)企業(yè)的認(rèn)知可信度，擴(kuò)大市場占有率，提高企業(yè)競爭力，彰顯產(chǎn)品品質(zhì)
工業(yè)診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)
檢測標(biāo)準(zhǔn)參考
GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法
GB/T 26074-2010鍺單晶電阻率直流四探針測量方法
檢測樣品：晶圓片
檢測項目：指標(biāo)檢測，性能測試，表面金屬檢測，厚度檢測等
檢測周期：7-15個工作日(參考周期)
檢測項目：指標(biāo)檢測，性能測試，表面金屬檢測，厚度檢測等，檢測標(biāo)準(zhǔn)參考：GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法。健明迪檢測國家高新技術(shù)企業(yè)，檢測資質(zhì)齊全，實驗室儀器先進(jìn)，真正的一站式檢測服務(wù)。
