1、恒定濕熱試驗
2、交變濕熱試驗

潮濕環(huán)境容易引起材料的表面劣化，也會導致電性能的劣化，同時在高溫下潮濕還會導致接觸部件的觸點污染，使觸點接觸不良。濕度誘發(fā)的主要故障模式有：電氣短路、活動元器件卡死、電路板腐蝕、表層損壞、絕緣材料性能降低等。紅外探測器濕熱試驗可確定紅外探測器在恒定濕熱和交變濕熱條件下貯存和運輸?shù)倪m應性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產品提供專業(yè)的濕熱試驗等環(huán)境試驗服務。

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GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法
GB/T 32065.7-2015 海洋儀器環(huán)境試驗方法 第7部分：交變濕熱試驗
GB/T 2424.2-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則
GB/T 2423.4-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
GB/T 2424.2-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則
GB/T 2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
IEC60068-2-30-2005環(huán)境試驗第2-30部分：試驗試驗Db：循環(huán)濕熱實驗（12h+12h循環(huán)）

用試驗的溫度、濕度和持續(xù)時間來表示試驗的嚴酷程度。具體數(shù)值由有關規(guī)范規(guī)定，但應優(yōu)先從下列數(shù)據(jù)中選取：
相對濕度：90%～95%。
溫度：20、25、40℃。溫度允差±2 ℃。
持續(xù)時間：2、4、6、10、21、56 d。
本試驗中的持續(xù)時間是從試驗樣品所處環(huán)境達到規(guī)定溫濕度時算起。